IATF16949体系文件——QP-030测量系统分析控制程序
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XXXX有限公司测量系统分析控制程序文件编号:MC-QP-030文件版本:B生效日期:2019.7.01发文编号:编制部门质量部审核XXX批准XXX测量系统分析采用其它方式进否是否赋值?是否计数型量具研究用零件是否超过(小样法)是是极差法计数型量具研究(大样法)长期短期均值和极差或方差分析法是否计量型测量仪器?适用的分析时间是否计量型测量仪器?测量是否可重复?供测试300件测量是否随机图表分析行评价。否否1.目的分析每种测量和试验设备系统得出的结果中出现的变差,掌握测量过程及测量系统的变差,了解其变差的原因,以便采取纠正措施进行改进。2.适用范围适用于《控制计划》中提及的测量系统分析及对生产线...
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